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1 Anonymous Users
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Re: PIC 24 xx JTAG 邊界掃瞄功能問題
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高級會員
 
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目前有一個新技術是要利用JTAG建立硬體電路檢查OPEN OR SHORT，他可以測試data bus or address bus IC對IC之間連結檢查，JTAG不單單是ICE的功能而已。
例如：如果兩顆IC或者是兩顆四顆以上他們都有JTAG而且都符合IEEE1149.1 規格就可以搭配其他方法對IC本身接腳或者IC連到其他接腳的路徑做檢查  我想我這樣說可能還不夠清晰 http://www.jtag.com/main.php?cm=p145_1_j4v3wPWwh1qc5r__2 不如大家到這一網站看一下，因為我在決定下一代新的設計要用那一類的IC才能符合我們生產線的需求 利用新設計新技術來提升生產線良率，程式寫的好不見得產品好生產，如果能導入新的檢驗技術就能降低不良率，提升生產效率，這是每一個工程師應該具備的基本知識
發表於: 2006/6/19 9:41
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Re: PIC 24 xx JTAG 邊界掃瞄功能問題
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資深會員
 
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已經提供給ICD2的接口做Debug，為何還要JTAG？
發表於: 2006/6/17 22:35
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不要問我哪裡來，我只是個流浪天涯的工程師
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PIC 24 xx JTAG 邊界掃瞄功能問題
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高級會員
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是否有，有關於如何運用PIC24FXX（16bit MCU）JTAG邊界掃瞄，DEBUG硬體的應用文章供參考
未來microchip pic18f系列MCU也會支援JTAG邊界掃瞄功能嗎？ 因為現在PCB越來越複雜越來越難修理，如果IC本身支援JTAG SCAN 那可能會比較輕鬆
發表於: 2006/6/17 11:10
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