Re: ATMEGA168PB flash corruption
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管理員
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由於您遇到的問題, 主因為先前使用的MCU版本所擁有的功能, 可以處裡您產品使用情境的Noise, 但是後來選擇了新版本已經沒有該功能, 因而無法應付產品使用情境這種大的Noise, 使得Bootloader異常動作而導致Application被錯誤寫入, 在已經無法更改設計的前提下, 建議換回先前舊版的MCU以符合當前的設計.
至於換貨/退貨/取消訂單等業務相關問題, 則需要麻煩您與當時購買的管道/窗口進行協調, 謝謝您.
發表於: 3/26 9:03
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Re: ATMEGA168PB flash corruption
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管理員
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已經在晶片規格書中移除的功能, 將不具意義也無法擔保其功能正常,
外部晶振雜訊過大, 確實會造成晶片運作異常而導致任何不可預期的錯誤, 在不更動原本硬體設計與軟體(改用內振)的條件下, 建議使用原本的MCU設計, 或是重新評估其他可以後加的硬體抗雜訊對策.
發表於: 3/22 17:41
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Re: ATMEGA168PB flash corruption
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管理員
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在 ATmega168PB Datasheet 中, Full Swing Crystal Oscillator 功能於以下修訂版本中即公告移除.
37.5 Rev. 42176E – 10/2015 (Datasheet page 390) 在 Migrating Guide 5.2 中也有提到這個改變, https://ww1.microchip.com/downloads/en/Appnotes/00002604A.pdf 這是舊 ATMega168 與 新的 ATMega168PB 的差異比較, https://ww1.microchip.com/downloads/en ... plicationNote_AT06609.pdf
發表於: 3/20 16:45
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Re: ATMEGA168PB flash corruption
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管理員
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3. 請問觸摸crystal pin時,是什麼樣情況會造成Reset?
Ans. 可以在boot時檢查 MCUSR – MCU Status Register 來了解發生 Reset 的原因是誰造成的?
發表於: 2/20 9:09
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Re: ATMEGA168PB flash corruption
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管理員
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請問是否有啟用 BOD (Brown Out Detect) 來避免因為電壓不穩定的情況之下. 造成 Bootloader 的異常動作導致去燒寫 Application Code 區塊?
由於 Application 被破壞的原因為進入 Bootloader 後, 不正常的存取 Application 導致, 因此可以從以下幾個方式來嘗試加強 Bootloader 的穩固性. 1. 藉由 MCUSR – MCU Status Register 來了解發生 Reset 的原因是誰造成的? 2. 開啟 BOD 之後, 若 Reset 的原因為 BOD 時, 那電源的硬體需要加強. 3. 若 Reset 的原因並非正常進入 Boot Loader 的 Reset 時, 則不要讓 Bootloader 有機會執行可以燒錄 App 的程式.
發表於: 2/1 8:24
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Re: ATSAMC21 Bootloader & Application 整合
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管理員
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可以在 Microchip Studio 中的 Tools>Device Programming 下, 選完燒錄工具及晶片型號之後, 按Apply, 在左邊的選單中有 Fuses , 點選之後即可看到當前晶片中的 Fuse Bytes 設置,
下圖是使用SAMD21的畫面
發表於: 1/12 11:48
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Re: ATSAMC21 Bootloader & Application 整合
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管理員
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有一些第三方工具可以協助將兩個BIN/HEX merge後一起燒錄,
但是最快的作法便是先將Boot Loader與Application在MCU上燒好之後, 再一次讀回來存成HEX 或 BIN. 另外請注意, SAM/AVR MCU需要額外燒錄 Fuse (Configure Bits), 與 Flash地址不同也無法存成一個HEX/BIN, 因此如您的專案有更改到原始Fuse配置時, 則需要另外燒錄. 若是要提供BIN/HEX給代燒廠燒錄時, 則需要額外提供 Fuse配置的Bytes內容, 代燒廠會幫您在燒錄Flash時一起燒錄 Fuse.
發表於: 1/11 9:16
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Re: SAMD21J18A 如何打出test pattern做USB 眼圖測試
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管理員
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您好, USB的測試方式及規範可參閱 USB-IF 這份文件,
https://www.usb.org/sites/default/file ... nd%20OTG%20MOI%201.01.pdf SAMD21系列的MCU, 在Datacheet USB章節 32.10.1中, 有關於Test Pattern設置的暫存器, 但是目前並沒有現成的範例可以提供驗證 以上資訊提供您參考.
發表於: 12/6 8:18
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Re: 想請問process,23LC1024,23A256,47L04
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管理員
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您好, 想請問為何需要知道此晶片的製程訊息呢? 由於晶片製程非為全部公開的技術資訊, 如果需要查詢時, 需要申請 NSCAR (Non-Standard Customer Action Request) 並填寫相關業務需求及終端銷售客戶資訊. 請與貴司的代理商或是我們的業務洽詢.
發表於: 12/1 15:20
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